En la Sección de Investigación, la mayoría de la gente suele citar la bibliografía que ha producido y sus contribuciones más notables, algo que es fácilmente accesible a través de bases de datos como ORCID (https://orcid.org/0000-0002-5304-1311). Sin embargo, en esta página me centraré en aquellas publicaciones que, desde mi perspectiva personal, valoro más, no necesariamente por su impacto mediático, sino por su relevancia en mi desarrollo académico.
La principal contribución de este trabajo es el desarrollo de un modelo analítico para los MOSFETs de puerta alrededor cuadrada (GAA), que incluye efectos cuánticos. Este modelo permite describir de manera precisa la distribución de carga de inversión en estos dispositivos, lo que es crucial para su modelado compacto. Además, se utilizan las funciones de distribución de carga de inversión para calcular parámetros importantes como el centroide de la carga de inversión y la capacitancia entre la puerta y el canal, lo que hace que este modelo sea fundamental para la optimización de estos dispositivos en futuras tecnologías de circuitos integrados sub-22 nm.
La ecuación que se presenta a continuación:
\[ \rho(y, z) = q N_{inv} \left| A_0 \sin\left(\frac{\pi y}{t_{Si}}\right)^{\frac{1}{2}} \sin\left(\frac{\pi z}{t_{Si}}\right)^{\frac{1}{2}} \left(e^{-\frac{b(t_{Si} - y)}{t_{Si}}} + e^{-\frac{by}{t_{Si}}}\right) \left(e^{-\frac{b(t_{Si} - z)}{t_{Si}}} + e^{-\frac{bz}{t_{Si}}}\right) \right|^2 \]
Es fruto de un proceso creativo en el cual se construye una representación analítica de la densidad de carga \(\rho(y, z)\) a partir del voltaje de puerta y de la geometría del dispositivo. Esta ecuación describe cómo los portadores de carga (electrones o huecos) se distribuyen dentro de la estructura del dispositivo MOSFET de múltiples puertas, en función de los parámetros geométricos y eléctricos. La forma en que los portadores se distribuyen está profundamente influenciada por el potencial eléctrico generado, el cual es una solución a la ecuación de Poisson, que gobierna la relación entre la densidad de carga y el potencial electrostático. En escalas nanométricas, la situación se complica debido a los efectos cuánticos. Aquí, los portadores no pueden ocupar cualquier posición dentro del dispositivo, sino que deben obedecer las restricciones impuestas por la ecuación de Schrödinger, que gobierna la probabilidad de encontrar un portador en una ubicación particular dentro de la geometría confinada del dispositivo.
Este proceso da lugar a una cuantización de los estados disponibles para los portadores, lo que significa que los portadores solo pueden ocupar ciertos niveles energéticos y posiciones específicas dentro del dispositivo. La ecuación presentada refleja esta cuantización, ya que describe cómo los portadores se distribuyen en función de probabilidades que dependen tanto de la geometría del silicio (\(t_{Si}\)) como del potencial aplicado, a través de las funciones sinusoidales y exponenciales en \(y\) y \(z\).
La principal contribución de esta ecuación es su capacidad para integrar de manera precisa los efectos cuánticos en el modelado de dispositivos a nanoescala, representando cómo los portadores de carga responden a la interacción entre la solución clásica de Poisson y los dictados cuánticos de Schrödinger. Es un avance significativo en la comprensión de dispositivos MOSFET multipuerta en tecnologías subnanométricas.
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Este trabajo es, hasta la fecha, la mejor contribución que he realizado en el campo de la investigación. Esto se debe principalmente a que logramos resolver una ecuación diferencial parcial (PDE) estimadamente no lineal, algo que representa un avance significativo en la modelización de dispositivos MOSFET tipo "Gate-All-Around" (GAA).
La ecuación diferencial clave que resolvimos, la ecuación de Poisson en 2D, incluye la densidad de carga de inversión, lo que permitió modelar con precisión el potencial eléctrico dentro de estos dispositivos avanzados. A continuación, se muestra la ecuación principal que aparece en el artículo:
\[ \frac{\partial^2 \psi(x, y)}{\partial x^2} + \frac{\partial^2 \psi(x, y)}{\partial y^2} = \frac{q}{\epsilon_{Si}} n_i e^{\frac{q \psi(x, y)}{kT}} \]
Donde \( q \) es la carga del electrón, \( \epsilon_{Si} \) es la permitividad del silicio, \( k \) es la constante de Boltzmann, \( T \) la temperatura y \( n_i \) la densidad de electrones intrínseca. Esta ecuación es fundamental para calcular el potencial eléctrico y la densidad de carga de inversión en los dispositivos GAA MOSFET de geometría cuadrada, lo cual no había sido modelado con tanta precisión hasta ahora.
Este avance permitió el desarrollo de un modelo compacto que facilita el diseño y la optimización de dispositivos MOSFET en escalas nanométricas, particularmente en aplicaciones de bajo consumo y alta frecuencia. La integración de los efectos cuánticos y la solución precisa de esta ecuación son un aporte significativo a la comunidad científica, especialmente en la modelización de dispositivos sub-22 nm.
Haz clic aquí para descargar el paper.Las ecuaciones diferenciales en derivadas parciales (PDE) no lineales son considerablemente más difíciles de resolver que las ecuaciones lineales por varias razones fundamentales:
I. K. Sabitov, destacado matemático ruso, es conocido por sus contribuciones a la solución de ecuaciones diferenciales parciales no lineales, como se muestra en su influyente trabajo "Solutions of \[\Delta u = f(x, y)e^{cu}\] in some special cases" "https://istina.msu.ru/publications/article/6764725/" . Sabitov exploró métodos avanzados para resolver ecuaciones complejas en derivadas parciales, aplicando técnicas que han permitido un progreso significativo en la comprensión de sistemas no lineales.
Su trabajo sobre estas ecuaciones, en particular, ha proporcionado a la comunidad científica herramientas valiosas para abordar problemas no triviales en una variedad de campos. La habilidad de Sabitov para aplicar funciones especiales y holomorfas en el plano complejo fue esencial para comprender mejor cómo resolver ecuaciones diferenciales parciales no lineales bajo condiciones específicas.
Gracias a los trabajos de I. K. Sabitov sobre funciones holomorfas en el plano complejo, fue posible aplicar sus métodos a mi investigación, lo que me permitió resolver con éxito la ecuación diferencial parcial no lineal presentada en este trabajo.
Por otro lado, el trabajo del Matemático Ruso S. Yu. Savitóv que no se debe confundir con I. K. Sabitov
S. Yu. Savitóv fue un matemático y físico ruso conocido por sus aportaciones a la teoría de ondas no lineales y solitones, fenómenos que están fuertemente asociados con ecuaciones diferenciales parciales no lineales.
Uno de los problemas más importantes que abordó fue el estudio de ondas solitarias, que son soluciones estables de ciertas PDE no lineales, como la ecuación de Korteweg-de Vries (KdV). Estas ondas viajan sin dispersarse, a pesar de la presencia de no linealidades, y han encontrado aplicaciones en áreas como la óptica, la teoría de fluidos y la física de plasmas.
El trabajo de Savitóv se enfocó particularmente en el desarrollo de métodos matemáticos para analizar la estabilidad y la formación de solitones en sistemas no lineales. Entre los avances clave de Savitóv, destaca su uso de métodos analíticos y numéricos para demostrar cómo las soluciones tipo solitón emergen en sistemas donde las ecuaciones no lineales describen la interacción de ondas. Su investigación no solo proporcionó una mejor comprensión de las propiedades de estos sistemas, sino que también fue crucial para aplicar los solitones en tecnología moderna, como la transmisión de datos por fibras ópticas.
Este artículo presenta un procedimiento computacional innovador para simular el comportamiento en el dominio del tiempo de antenas fotoconductoras (PCA) hechas de materiales semiconductores y metálicos. El estudio aborda uno de los principales desafíos en la tecnología THz: la correcta modelización de la interacción entre los portadores de carga y los campos electromagnéticos en el régimen de terahercios (THz). La importancia de este modelo radica en su capacidad para representar con precisión la radiación electromagnética a partir de estos dispositivos, un aspecto crucial para diversas aplicaciones como la espectroscopia en el rango de terahercios.
Una de las contribuciones más notables es el desarrollo de un conjunto detallado de ecuaciones numéricas explícitas, derivadas mediante técnicas de diferencias finitas en el dominio del tiempo (FDTD), que acoplan las ecuaciones de Poisson y Maxwell con el modelo de deriva-difusión de portadores de carga. A través de este enfoque, se modela la distribución de los portadores en estado transitorio y estacionario, lo que permite evaluar los campos electromagnéticos generados por la aceleración de estos portadores dentro de las PCAs. Este procedimiento muestra una excelente correlación con datos experimentales previamente reportados, lo que subraya la precisión del modelo.
Este artículo explora el impacto significativo de los modelos de movilidad en la descripción de la dinámica de los portadores para el análisis de dispositivos fotoconductores radiativos de semiconductores en el régimen de terahercios (THz). Los autores desarrollaron un simulador que resuelve de manera autocoherente tanto la física del dispositivo semiconductor como las ecuaciones de Maxwell para estudiar los campos electromagnéticos radiados. Un enfoque clave de este trabajo es la importancia de modelar con precisión el régimen estacionario del dispositivo semiconductor, lo cual es crucial para el cálculo preciso de los campos radiados, especialmente en la dirección de la normal.
Una de las principales contribuciones de este artículo es la demostración de cómo una descripción precisa del régimen estacionario del potencial eléctrico, las distribuciones de campo y la movilidad local es esencial para lograr resultados realistas en las simulaciones de antenas fotoconductoras terahercios (PCA). El estudio muestra que los modelos previos, que no consideraban detalladamente los regímenes estacionarios, no lograban capturar toda la complejidad de las interacciones de los portadores y sus efectos en los campos electromagnéticos radiados.
Este documento es uno de los más importantes en mi tesis, ya que proporciona, a partir de un modelo relativamente simple, una descripción de los comportamientos no lineales necesarios para modelar adecuadamente las antenas fotoconductoras en el régimen de terahercios (THz). En su momento, métodos como Monte Carlo o elementos finitos fueron sugeridos como esenciales para este tipo de modelado debido a la complejidad intrínseca de los fenómenos involucrados. Sin embargo, este estudio demuestra que, utilizando una simplificación basada en la dependencia de la movilidad de los portadores de carga con respecto al campo eléctrico, se pueden obtener resultados experimentales precisos y altamente eficientes.
El artículo explora la influencia de la geometría de los electrodos de polarización sobre el rendimiento de las antenas fotoconductoras. Se presenta una metodología para calcular de forma numérica el ancho de banda operativo y la eficiencia de radiación de las PCAs (antenas fotoconductoras). Los resultados numéricos se validan mediante comparaciones con mediciones experimentales, lo que otorga credibilidad a las simulaciones presentadas.
This paper marked a turning point in my research, published after my PhD defense, and played a significant role in advancing the understanding of photoconductive antennas (PCAs) in the terahertz (THz) domain. It laid the foundation for the process of both emission and reception in near-field PCAs, which would later be presented at a prominent conference in Tucson, Arizona https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2014.6956333.
The paper focuses on developing a simulator that couples semiconductor charge transport equations with Maxwell's equations to study the performance of terahertz receivers based on PCAs. This model allowed for an accurate characterization of PCAs, confirming experimental results through simulations. The key breakthrough was the detailed analysis of how a photoconductive receiver antenna detects THz radiation by convolving the photoconductivity of the receiver with the electric field generated by an emitter PCA. This simulation tool was critical for understanding and optimizing THz time-domain spectroscopy (THz-TDS) systems.
Este trabajo representa un avance clave en la modelización de MOSFETs cuadrados de puerta alrededor (GAA) con esquinas redondeadas, que refleja el proceso real de fabricación. El redondeo de las esquinas ocurre naturalmente debido a ataques químicos durante la fabricación. Este modelo se basa en marcos de trabajo de MOSFET existentes, pero los mejora con skirkels, una forma de representación matemática basada en squircles, para determinar analíticamente la distribución de los portadores de carga de inversión.
La siguiente ecuación combina de manera creativa ideas tanto de la Ecuación 5 como de la Ecuación 8 en este artículo para describir la distribución de portadores en MOSFETs con esquinas redondeadas:
\[ n(r, \alpha) = N_{inv} A^2 \cos \left( \frac{\pi r}{t(\alpha)} \right)^{\alpha} \cosh \left( \frac{r_b}{t(\alpha)} \right)^{(1 + c \sqrt{r})} S(r, \alpha) \]
Esta ecuación es el resultado de un proceso creativo que incorpora la función squircle para tener en cuenta la naturaleza redondeada de las esquinas, que los modelos anteriores habían ignorado. La función \(S(r, \alpha)\) representa la forma del semiconductor, y el parámetro \(t(\alpha)\) se ajusta para las distancias variables entre el centro y los bordes redondeados del dispositivo. Al usar este enfoque, el modelo describe con precisión la distribución de la carga de inversión en toda la región activa del MOSFET, ofreciendo una representación más precisa que los modelos que suponen geometrías perfectamente cuadradas.
Este modelo fue desarrollado porque, en los procesos reales de fabricación de MOSFETs, las esquinas nunca son perfectamente cuadradas, sino que se redondean debido a las interacciones del material. La inclusión de esta geometría mejora la precisión de las simulaciones y proporciona una mejor comprensión de cómo se comportan los MOSFETs a escalas nanométricas. Los parámetros de ajuste del modelo—\(\alpha\), \(b\), y \(c\)—se afinan en función de los resultados experimentales, lo que garantiza una fuerte correlación entre la simulación y los datos del mundo real.
Este artículo introduce un modelo analítico para describir con precisión la velocidad de deriva y la movilidad de los electrones y huecos en In0.53Ga0.47As bajo diferentes condiciones de campo eléctrico y concentraciones de dopantes. Utilizando datos simulados por métodos de Monte Carlo, el modelo combina simplicidad matemática con precisión, lo que lo hace ideal para su implementación en simulaciones compactas y eficientes.
La siguiente ecuación (Ecuación 1) modela la velocidad de deriva de los electrones como función del campo eléctrico:
\[ v_e(|\vec{E}|) = \left\{ \begin{array}{ll} \frac{A_e\left(\sin\left( \frac{\pi|\vec{E}|}{10}\right)\right)^{b_e}}{e^{c_e|\vec{E}|^2}} & \text{si } |\vec{E}| < E_{c,e} \\ \frac{D_e|\vec{E}|}{\left(1+\frac{|\vec{E}|-E_{c,e}}{3}\right)^f_e} & \text{si } |\vec{E}| \geq E_{c,e} \end{array} \right. \]
Esta ecuación describe cómo la velocidad de los electrones aumenta con el campo eléctrico hasta alcanzar un valor de saturación, capturando de manera efectiva las transiciones entre los diferentes regímenes de transporte.
De manera similar, la Ecuación 3 se utiliza para describir la velocidad de deriva de los huecos en función del campo eléctrico:
\[ v_h(|\vec{E}|) = \left\{ \begin{array}{ll} \frac{A_h\ln(|\vec{E}|+1)}{(|\vec{E}|+1)^{b_h}} & \text{si } |\vec{E}| < E_{c,h} \\ \frac{C_h\tanh(|\vec{E}|)}{\ln(|\vec{E}|+d_n)^{f_h}} & \text{si } |\vec{E}| \geq E_{c,h} \end{array} \right. \]
Ambas ecuaciones permiten capturar con precisión la dinámica de los portadores en el material InGaAs, facilitando simulaciones rápidas y exactas de dispositivos electrónicos a nivel macroscópico.
Este artículo introduce un método totalmente explícito de diferencias finitas en el dominio del tiempo (FDTD) para modelar el electromagnetismo no lineal, centrándose en su aplicación a la nanoestructuración láser ultrarrápida. Aqui desarrollamos un algoritmo estable capaz de manejar fenómenos no lineales complejos como los efectos Kerr y Raman, la generación de plasma, y las interacciones de la luz en interfaces metal-dieléctrico. La precisión y estabilidad del algoritmo fueron probadas teóricamente, convirtiéndolo en una herramienta poderosa para simular interacciones láser-material a escala nanométrica.
Una de las contribuciones más significativas de este trabajo es el estudio detallado de la estabilidad numérica, en particular la identificación de condiciones de estabilidad que aseguran la convergencia. La investigación destaca cómo optimizar el marco para mantener la convergencia al tratar con efectos altamente no lineales en materiales nanoestructurados.
Los efectos no lineales considerados incluyen la ionización multiphotónica, la generación de plasma de electrones libres y la dispersión en metales. Además, este artículo también aborda las condiciones de estabilidad para el algoritmo FDTD. El Apéndice A del artículo proporciona una derivación detallada de los criterios de estabilidad de Von Neumann y el criterio de Routh-Hurwitz, asegurando la robustez del esquema numérico en varios escenarios no lineales.
Este artículo introduce un análisis comparativo de diferentes rejillas basadas en el sistema cristalino cúbico para la solución explícita de la ecuación de ondas mediante el método de diferencias finitas en el dominio del tiempo (FDTD). Las rejillas estudiadas incluyen el cubo simple (SC), el cubo centrado en el cuerpo (BCC), el cubo centrado en las caras (FCC) y el cubo de empaquetamiento compacto (CPC).
Una de las contribuciones más importantes de este trabajo es el estudio detallado de las condiciones de estabilidad numérica y la identificación de los marcos en los que las rejillas son más eficientes y precisas. Se pone un énfasis particular en cómo cada rejilla ofrece ventajas en términos de error de dispersión física y anisotropía relativa en función de las características del problema a resolver.
El artículo también aborda el estudio de la complejidad computacional, evaluando el costo asociado a la implementación de cada rejilla en términos de tiempo de simulación y carga computacional. Los resultados demuestran que la rejilla BCC, aunque compleja, ofrece el mejor compromiso entre precisión y costos computacionales para aplicaciones específicas.
Este artículo explora los efectos de la iluminación en diodos cuánticos de metal-aislante-metal (MIM) en el rango de infrarrojo medio, centrándose en la mejora de la corriente de túnel generada a través de técnicas de iluminación optimizadas. El estudio investiga el uso de un método de iluminación distribuida combinado con una configuración basada en el prisma de Kretschmann y Reather. Esta técnica extiende el evento de túnel cuántico a lo largo de toda la unión del diodo, aumentando significativamente tanto la corriente de túnel cuántico como la responsividad del diodo.
Una de las contribuciones más notables de este trabajo es la exploración de la estabilidad numérica y la optimización en la responsividad del diodo. La investigación destaca cómo la iluminación distribuida conduce a un campo eléctrico más uniforme en la unión, mejorando el proceso de rectificación cuántica en comparación con los métodos tradicionales. También se enfatiza el estudio de los efectos no lineales, particularmente en el contexto de cómo se mejora el túnel cuántico mediante la configuración de iluminación aplicada.
Además, este estudio examina el modelado computacional utilizando el método ADE-FDTD para resolver las ecuaciones de Maxwell incorporando el túnel cuántico. Este enfoque numérico ayuda a simular con precisión la interacción entre los campos electromagnéticos y el diodo MIM, proporcionando ideas sobre cómo los diferentes ángulos de iluminación y espesores de los metales afectan al rendimiento.
Este artículo presenta un estudio comparativo entre la rejilla cúbica simple (SC-Grid) y la rejilla cúbica centrada en el cuerpo (BCC-Grid) para el modelado de una hoja de grafeno como condición de contorno superficial utilizando el método de diferencias finitas en el dominio del tiempo con ecuaciones diferenciales auxiliares (ADE-FDTD). El estudio se centra en las contribuciones intrabanda e interbanda de la conductividad del grafeno, considerando al metal en contacto como un medio dispersivo.
Una de las contribuciones clave de este trabajo es el uso de la BCC-Grid, que evita discontinuidades en los componentes normales de los campos eléctrico y magnético en la superficie del grafeno, demostrando ser superior a la rejilla SC-Grid tradicional para estas aplicaciones. La BCC-Grid ofrece ventajas computacionales al reducir la complejidad manteniendo la precisión, especialmente en frecuencias de infrarrojo medio y lejano, donde los modelos volumétricos del grafeno se vuelven impracticables.